泰安扫描电镜如何制样视频教程

纳瑞科技（北京）有限公司(Ion Beam Technology Co.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。

扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种表征材料微观结构的高分辨率显微镜,可以对样品进行表面形貌分析、化学成分分析等。使用扫描电镜制备样品的步骤如下:

1. 样品准备

将待观察的样品放入扫描电镜样品室中,并使用样品夹具将其固定在扫描电镜的样品台上。将扫描电镜的X射线光源调至适当的位置,并使用扫描电镜的探针扫描样品表面。

2. 选择观察模式

根据需要观察的样品特性,选择合适的观察模式。例如,如果想观察样品的表面形貌,则应使用“观察”模式。如果想观察样品中的微观结构,则应使用“扫描”模式。

3. 设置扫描仪

根据需要使用扫描电镜的扫描仪设置,包括扫描方向、扫描速度、探测器灵敏度等。这些设置将影响观察结果。

4. 开始观察

启动扫描电镜并开始观察。在扫描过程中,扫描电镜将使用X射线扫描样品表面。在扫描完成后,扫描电镜将停止扫描并显示扫描图像。

5. 分析扫描图像

使用扫描电镜提供的分析工具,如边缘检测、区域生长等,对扫描图像进行分析。这些工具可以帮助识别样品中的不同结构,并对它们进行定量分析。

6. 制备样品

使用扫描电镜制样工具,如样品夹具和扫描电镜控制器等,将扫描图像中的特定区域切割出来,并将它们放入制备容器中。

7. 总结

扫描电镜是一种制样工具,可以帮助制备各种材料。通过使用扫描电镜,可以轻松地制备出所需的样品,并使用扫描电镜提供的分析工具对样品进行分析。